• 형광 X-ray를 이용한 금속 시편의 도금 두께를 정밀하게 측정
• 단층 및 다층 도금 층에 대한 분석이 가능 하여 multi-layer 도금 제품 분석
• 합금 원소일 경우 성분과 두께 동시 분석
• 원소의 성분 분석
뿌리장비 예약
장비 상세정보
| 장비사진 | 장비명 | X-선 도금두께측정기(X-ray Coating Thickness ) | ||
|---|---|---|---|---|
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제작사 | Hitachi High-Tech Science | 모델명 | FT100A/EA1000III |
| NTIS | NFEC-2015-04-201131 | E-TUBE | 1503-A-0164 | |
| 장비분류 | 분석장비 | 기술분야 | 표면처리 | |
| 보유센터 | 부산뿌리기술지원센터 | 장비상태 | 정상 | |
| 구축일 | 2015-03-10 | 구축비용 | 103,675,089원 | |
| 수수료 | 25,000원/건 | 바우처 사용 | 사용가능 | |
| 담당자 | 김용환 | 연락처 | ||
| 매뉴얼 |
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주요사항
원리 및 특징
1. 본 시스템은 X-ray 형광 분석 방법을 통해 분석.
2.5층까지의 두께측정과 동시적으로 Al(13)부터U(92)까지의 원소 분석을 수행 가능
3. 유럽연합의 WEEE 와 RoHS 규약과 양립하고 플라스틱의 Cb와 Pb의 그러한 유해중금속의 수ppm의 낮은 검출이 가능함
4. 본 시스템은 테이블의 움직임동안 충격을 방지하기 위한 충돌 방지
2.5층까지의 두께측정과 동시적으로 Al(13)부터U(92)까지의 원소 분석을 수행 가능
3. 유럽연합의 WEEE 와 RoHS 규약과 양립하고 플라스틱의 Cb와 Pb의 그러한 유해중금속의 수ppm의 낮은 검출이 가능함
4. 본 시스템은 테이블의 움직임동안 충격을 방지하기 위한 충돌 방지
사용예
• 형광 X-ray를 이용한 금속 시편의 도금 두께를 정밀하게 측정
• 단층 및 다층 도금 층에 대한 분석이 가능 하여 multi-layer 도금 제품 분석
• 합금 원소일 경우 성분과 두께 동시 분석
• 원소의 성분 분석
• 단층 및 다층 도금 층에 대한 분석이 가능 하여 multi-layer 도금 제품 분석
• 합금 원소일 경우 성분과 두께 동시 분석
• 원소의 성분 분석
활용분야
1. 본 시스템은 X-ray 형광 분석 방법을 통해 분석.
2.5층까지의 두께측정과 동시적으로 Al(13)부터U(92)까지의 원소 분석을 수행 가능
3. 유럽연합의 WEEE 와 RoHS 규약과 양립하고 플라스틱의 Cb와 Pb의 그러한 유해중금속의 수ppm의 낮은 검출이 가능함
4. 본 시스템은 테이블의 움직임동안 충격을 방지하기 위한 충돌 방지
1. 도금층의 두께 측정 및 층별 구성 성분 동시 분석
2. X-ray Tube (X-선 발생장치) : W, micro focus, 50kV, 1mA
3. 검출기 : proportional counter 비례계수관 (MCA 채널수 : 2048)
4. 측정 원소 범위 : Al(13)~U(92), 최대 5층 두께 분석
5. Laser Focus, Auto Focus, Multi Focus, 자동초점 & 다 초점 기능
6. 광역 관찰 기능, 충돌 방지 기능, CCD camera
2.5층까지의 두께측정과 동시적으로 Al(13)부터U(92)까지의 원소 분석을 수행 가능
3. 유럽연합의 WEEE 와 RoHS 규약과 양립하고 플라스틱의 Cb와 Pb의 그러한 유해중금속의 수ppm의 낮은 검출이 가능함
4. 본 시스템은 테이블의 움직임동안 충격을 방지하기 위한 충돌 방지
1. 도금층의 두께 측정 및 층별 구성 성분 동시 분석
2. X-ray Tube (X-선 발생장치) : W, micro focus, 50kV, 1mA
3. 검출기 : proportional counter 비례계수관 (MCA 채널수 : 2048)
4. 측정 원소 범위 : Al(13)~U(92), 최대 5층 두께 분석
5. Laser Focus, Auto Focus, Multi Focus, 자동초점 & 다 초점 기능
6. 광역 관찰 기능, 충돌 방지 기능, CCD camera