-스캐너 측정범위: XY 스캔 범위: 80 ㎛ × 80 ㎛ 이상, Z 스캔 범위: 5 ㎛ 이상
-스캐너 분해능: XY: 0.1 nm 이하, Z: 0.01 nm 이하
-Z축 노이즈: 0.05 nm RMS 이하
-측정모드
Contact & Non Contact & Tapping Mode, Phase Imaging, Lateral Force Microscopy, Force-Distance & Curve, Magnetic Force Microscopy (MFM), Electric Force Microscopy (EFM), Surface Potential Microscopy, Nanoindentation
-최대 장착 가능 시료 크기:40mm x 40mm x 10mm 이상
-광학계(Optics): 배율 x10 이상, CCD: 5M 픽셀 이상
뿌리장비 예약
장비 상세정보
| 장비사진 | 장비명 | 주사탐침현미경(atomic force microscope) | ||
|---|---|---|---|---|
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제작사 | bruker | 모델명 | Innova-IRIS |
| NTIS | NFEC-2017-10-240261 | E-TUBE | 1709-A-0135 | |
| 장비분류 | 분석장비 | 기술분야 | 표면처리 | |
| 보유센터 | 부산뿌리기술지원센터 | 장비상태 | 정상 | |
| 구축일 | 2017-09-21 | 구축비용 | 128,211,440원 | |
| 수수료 | 20,000 | 바우처 사용 | 사용가능 | |
| 담당자 | 권아람 | 연락처 | 051-987-9202 | |
| 매뉴얼 |
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주요사항
원리 및 특징
-원자간 인력에 따라 3차원 형상 등 표면정보를 얻는 장비
-소재표면 국부 미소영역에 대해 정밀한 측정 및 분석가능(나노영역, 수~수십미크론 영역의 표면형상 및 특성분석)
-morphology 및 roughness측정
-표면 마찰력, 전자기적 특성 분석
-나노인덴테이션기능 포함
-소재표면 국부 미소영역에 대해 정밀한 측정 및 분석가능(나노영역, 수~수십미크론 영역의 표면형상 및 특성분석)
-morphology 및 roughness측정
-표면 마찰력, 전자기적 특성 분석
-나노인덴테이션기능 포함
사용예
표면처리 제품의 시험분석·평가
-그라핀의 표면이미지 및 두께측정
-자성띄는 재료의 상분석
-양극산화 표면층의 나노기공구조분석
-열처리 후 도금층의 표면변화
-활성화 조건에 따른 표면상태 분석
-그라핀의 표면이미지 및 두께측정
-자성띄는 재료의 상분석
-양극산화 표면층의 나노기공구조분석
-열처리 후 도금층의 표면변화
-활성화 조건에 따른 표면상태 분석
활용분야
- 표면처리 시제품 제작/개발 지원
·파일럿장치 등을 이용한 시제품 제작지원시 센터에서 즉시 표면 또는 피막 품질 평가가능
·표면 또는 피막 품질 평가결과를 활용한 시제품 공정 또는 조건 개선에 활용
- 표면처리 제품의 시험분석·평가 지원
·표면처리 제품에 대한 표면형상(morphology) 이미지, 미세조도(roughness), 미세경도·물성(nano-indentation) 측정
·표면 이미지 및 측정 결과의 수요처 제출, 자체 품질관리 등 산업체 지원에 활용
·미세 범위 관찰을 통한 표면결함 분석
·파일럿장치 등을 이용한 시제품 제작지원시 센터에서 즉시 표면 또는 피막 품질 평가가능
·표면 또는 피막 품질 평가결과를 활용한 시제품 공정 또는 조건 개선에 활용
- 표면처리 제품의 시험분석·평가 지원
·표면처리 제품에 대한 표면형상(morphology) 이미지, 미세조도(roughness), 미세경도·물성(nano-indentation) 측정
·표면 이미지 및 측정 결과의 수요처 제출, 자체 품질관리 등 산업체 지원에 활용
·미세 범위 관찰을 통한 표면결함 분석